奥林巴斯olympus 45MG测厚仪对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量使用双晶探头
45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的剩余厚度。这些应用中zui常使用的是双晶探头。
45MG仪器提供的B扫描功能,可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。在观察材料厚度在一定距离上发生的变化时,这个标准功能非常有用。探头一接触到材料表面,就会激活B扫描。冻结zui小值功能用于显示扫查区域的zui小厚度值。可选45MG数据记录器zui多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。
45MG测厚仪配上D932系列探头(D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL),是测量高温材料(温度高达500 ºC)的理想选择,并可获得稳定的厚度读数。45MG的零位补偿功能,通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化,提高了在高温表面上进行测量的性。