奥林巴斯Panametrics 35DL超声波测厚仪

Panametrics 35DL超声波测厚仪
Panametrics 35DL超声波测厚仪在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型超声波测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

美国泛美超声波测厚仪系列的特性

所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。
• 可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取决于仪器和材料。
• 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。
• 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。
• 手持式，仅重0.24公斤（8.5盎司）。
• zui小/zui大模式
• 高-低报警
• 英制和公制显示（英寸或毫米）
• 多种语言用户界面
• 长效电池

Panametrics 35DL超声波测厚仪应用

• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

Panametrics 35DL超声波测厚仪减缩率测量

所有仪器型号的标准配置都具有差分模式和减缩率模式。差分模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比。典型的应用是对为制造车身面板而弯曲成形的钢板进行测量。

Panametrics 35DL超声波测厚仪材料声速测量
所有Panametrics 35型仪器均具有测量材料声速的性能。在材料声速与其它特性可能有关系的应用中，这个标准功能非常有用。典型应用包括监测金属铸件的球化程度，以及监测复合材料/玻璃纤维材料的密度变化。Olympus提供一个数字卡尺，用于自动传输测量厚度值。

Panametrics 35DL超声波测厚仪自动调用功能可简化测量操作
自动调用功能可使厚度测量简化。在选择了任何一种所存的探头时，35型仪器都可调用相关内置探头的所有参数。
Panametrics 35DL超声波测厚仪存储的标准设置标准设置包括大多数常用的探头。
Panametrics 35DL超声波测厚仪存储的自定义设置在标准设置不能满足特殊的应用需求时，这些测厚仪可以创建、存储和调用多达20个自定义设置（35型和35HP型可调用10个自定义设置）

Panametrics 35DL超声波测厚仪配合M208探头应用

渡越时间测量范围：0.0 µs～109.5 µs
渡越时间分辨率：固定在000.01 µs。
测量更新速率：4、8、16或zui大频率值（16～20 Hz，因应用和测量模式不同而不同）。
探头频率范围：2.25 MHz～30 MHz（35型和35DL型）
0.5 MHz～5.0 MHz（35HP型和35DL-HP型）
zui小/zui大模式：显示当前厚度、zui小厚度或zui大厚度（视设置而定）。
显示保持/空白：显示上一个读数后，屏幕显示空白或者持续显示这个读数。
报警模式：可编程高/低报警设定点，带有视听报警指示器。

差分模式：显示实际测量值和参考值之间的厚度差。
缩减率模式：显示厚度数值及实测厚度与参考厚度的百分比差值。
自动调用功能：自动为各种默认的和自定义的探头设置调节内部参数。

Panametrics 35DL超声波测厚仪标准附件
手腕带、3节AA电池、试块、探头线缆、耦合剂、便携箱、指导手册、两年有限保修。